产品案例Product case

红外测厚系统



  • 简介:利用红外光穿透物质时的吸收、反射、散射等效应实现非接触式测量薄膜类材料的厚度。具有测量准确、精度高、实用性好、安全可靠、无辐射、非接触式测量等人工测量及其它测量方法无法比拟的优点,并为各类型厚度控制提供了准确的信息,从而提高了生产效率和产品质量,降低了劳动强度。

性能指标

膜厚范围:2-150 μm

膜厚变化最小值:0.1 μm/0.1%*厚度值

光源:红外稳态光源,波长2.5-5.5 μm

测量速度:≥60次/秒

电源:AC 90-260V,50/60Hz

环境温度:5-40℃(无结露)

外部接口:RS232,Ethernet

整机尺寸:320*200*150mm

测量距离:8-200mm

光斑大小:≤20mm

咨询热线:0755-26604467
至汉优势
公司基于学生的创新能力、核心器件的开发能力,光机电软工程师的设计能力,由教授博导领头、硕博团队研发、工程开发应用,进行产品研发、生产与销售。
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